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PCT老化试验箱

PCT加速老化试验箱

PCT加速老化试验箱-易升用心为客户服务
一、产品简介
PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
二、PCT加速老化试验箱满足标准
1. GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件。
2. GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验。
3. MIL-STD810D方法502.2。
4. GJB150.9-8温湿试验。
5. GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验。
6. LEC60068-2-66试验。
7. JESD22-A102-B试验。
8. GB/T2423.40-1997试验。
三、PCT加速老化试验箱特点
1.PCT加速老化试验箱采用进口微电脑控制饱和蒸气温度、微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度。
2.PCT高压加速老化测试箱采用指针显示正负压表;时间控制器采LED显示器;自动水位控制器,水位不足时提供警示。
3.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计.。
4.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.。
5.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。
6.pct高压加速老化机自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,精密安全门把设计,箱内有大于常压时测试门会被反压保护。
7.pct高压加速老化机内压力愈大时,箱门会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长寿命。
8.临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
9.安全阀,当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。
10.pct高压加速老化机一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长。
四、PCT加速老化试验箱详细参数
型 号 ES-PCT - 25 ES-PCT - 35 ES-PCT - 45 ES-PCT - 65
内部尺寸(W×H×D)mm Φ250×300 Φ300×450 Φ450×500 Φ650×600
外箱尺寸(W×H×D)mm 500×500×700 580×850×650 800×750×900 950×900×1100
使用温度 121℃;132℃;(143℃特殊选用)
使用湿度 100%RH饱和蒸气湿度
使用蒸气压力(绝对压力) 1个环境大气压 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2属于特殊规格)
循环方式 水蒸气自然对流循环
安全保护装置 缺水保护,超压保护、 (具有自动/手动补水功能,自动泻压功能)
配 件 不銹钢隔板两层
电 源 AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz
注:
1. 在无试验负荷、无层架情况下稳定30分钟后测定的性能。
2. 关于温度上升及下降时间是指风冷式在周围环境温度为26℃±5℃,时所测量的性能。
3. 温湿度传感器设置于空调箱出风口处。
4. 温湿度均匀度定义为:实验室几何中心点处,温湿度时的所测之资料。
5. 以上数据性能,测量,计算方法参照GB5170.2、GB5170.5的方法测定。
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