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HALT试验箱日本Hirayama HAST

时间:2018-09-17 14:29:05 来源:本站 点击:

HALT试验箱 CHAMBER又称为超加速寿命试验机,适用在IC、PCB、LCD Board、电池、电容、电阻,及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验, 比较传统之恒温恒湿设备85/85%R.H.试验时, 可以节省大量时间, 当测试温度越高, 压力越大,测试时间缩短越多, 在质量检验上大量节省电力, 人力, 物力, 提升产品竞争力.

产品概述:

快速发现产品的薄弱环节。

CSZ的试验箱和振动台,是由HALT/HASS技术的发明人Greg Hobbs博士设计的。

它们提供了业界最宽泛的温度范围和振动能力,是用于暴露产品缺陷的关键因素。

CSZ的加速试验箱代表了当前业界在多轴宽频带振动和快速温循综合测试方面的前沿技术。

• 极高的可靠性和热性能;

• 最好的高、低振动极限;

• 静音操作;

• 高效的LN2和电力效率,更高的投资回报;

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